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施克位移测量传感器,选型样本

施克位移测量传感器,选型样本

  • 所属分类:SICK(施克)传感器
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2019-06-12
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

施克位移测量传感器,选型样本

该传感器示教过程简单,可以帮助工作人员快速且成本地完成调试

紧凑的独立式设计节省了占用空间和布线费用

大测量范围和接口使其能够、成本地连接至所有的环境

投资成本确保了一致、规律的质量

安全距离内的非接触式测量技术使其能够直接在过程中进行检测

基于非接触式测量、无磨损和损坏的检测

通过光学和 nm 精度的距离测量实现一致性和高产品质量

位移测量传感器是用于测量的激光传感器,测量范围达 1,000 mm。由于其测量精度,该传感器尤其适用于与质量或成本相关的控制、分类或测试过程。可测量的特性包括例如尺寸、位性能的测量专家

高达 80 kHz 的测量频率

采用TCP/IP 协议的以太网接口直接内置于传感器头

用于设置参数的 Web 服务器界面

创新型评价算法

紧凑的独立式设备

轻松测量

紧凑型、坚固的外壳

单独使用或与 OD Mini 评价单元一起使用

设备上配备显示器和 LED,可对当前状态进行可视化显示

提供各种接口

通过显示屏或外部示教输入可进行简单培训

用于快速和测量的 CMOS 接收单元,其测量精度在 µm 范围内

各种测量范围:从 10 mm 至 250 mm 均可进行测量

在定位任务中提供极高的重复精度

识别和测量极微小的凹陷或孔眼

不受表面限制且的测量方法较大程度地减少了机器停机时间

置和形状。在应用位移测量传感器时,您可以通过 检测改善成品质量,同时降材料成本和停机成本。

简单、准确测量

多种测量范围:从 26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 500 mm

借助 CMOS 接收元件实现非常准确、不受表面限制的测量

简单、基于 LED 的操作或示教方案

凭借的标准接口实现丰富的产品多样性

用于测量物体的激光技术

施克位移测量传感器,选型样本

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