SUNX松下激光位移传感器HL-C203BE用途

SUNX松下激光位移传感器HL-C203BE用途

HiR透镜

设计的高分辨率透镜，将像差降到小限度。

可将任何角度的光线在受光部以小点成像，实现了更高的精度。

HiR：High Resolution

HiR透镜

MSGB

利用创新的光学技术和光圈结构，使的激光成为现实。另外，在投光量调整功能中采用新的算法，确保投光状态始终保持稳定。

MSGB：Micro Spot Gaussian Beam

MSGB

高速计算处理

利用擅长于高速处理的专用IC 和创新的算法，在传感器检测头与控制器之间进行数字传输，同时兼顾测量值的高速传输和稳定性。

■受检工件容许倾斜的范围更宽

与以往相比，对倾斜的容许度提高了1.5倍，即使测量时工件发生变动，也能轻松检测。

[HL-C203BE(-MK)的情况]

受检工件容许倾斜的范围更宽

■省空间的小型检测头

小型检测头，与本公司以往产品相比，体积比下降了约23%，可以将安装空间减小到极限程度。

[HL-C203BE(-MK)的情况]

省空间的小型检测头

■条件设定功能

检测头功能及输出条件等显示在菜单上，可按顺序简单设定。

条件设定功能

■测量数据显示功能

可以简便地使传感器安装时的设定及投光量设定优化。还可在面板上进行保持及计时等输入操作。白色背光灯提高显示屏的可视性。

控制器

■可连接两个检测头

可在控制器内对各个测量值进行计算。

■丰富的I/O

可以连接各种设备，可以通过这些设备对记录的数据进行显示、分析处理，以及对传感器进行控制。

■无偿提供API(Application Programming Interface)

可以通过USB连接的电脑使用控制HL-C2的API。还备有样品程序，有助于编程。

SUNX松下激光位移传感器HL-C203BE用途